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最新公告:< behavior=slide direction=left width=880 scrollamount=3 onmouseover='this.stop()' onmouseout='this.start()'>《ISO恒溫恒濕實驗室驗收標準》 《ISO恒溫恒濕實驗室要達到ISO187-90 23℃±1℃ 50±2% RH GB10739-89、ISO139-73、GB6529-86 20℃±1℃ 65±2% RH標準》 驗收條件: 溫度:18℃-40℃ ±1℃ 濕度:35%-90%RH ±2% Rh 溫度 濕度 1.穩定後10min均值差。 t±1.0℃ U±2.0 2.某一點任一個30min周期內大波動值 t≤1.0℃ U≤2.0%RH. 3.任意兩點在任一瞬間的測量差值 t≤0.5℃ U≤2.0%RH. 4. 同一點24h任兩個30min周期內波動值 t≤0.5℃ U≤1%RH. 5. 新鮮空氣補充量 0.5m3/人min 6. 室內空氣循環次數 15次/h以上,30/h次以下
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LED規範列表

作者:草莓视频下载黄色 來源:網絡 時間:2010-06-11 10:12:28

ANSI C78-377A

 固態照明規格

 Specifications for the Chromaticity of Solid State Lighting Products for Electric Lamps

 

CNS 2804

 路燈用光電式自動點滅器

 Photoelectric Controls for Public Lighting

 

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 包裝貨物與單位裝載之落下的垂直衝擊試驗法

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 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–焊錫附著性試驗

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CNS 5069

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–熱衝擊試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Thermal Shock)

 

CNS 5070

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–溫度循環試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature)

 

CNS 5071

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–溫濕度循環試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature & Humidity)

 

CNS 5072

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–氣密性試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Sealing Test)

 

CNS 5073

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–衝擊試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Shock Test)

 

CNS 5074

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–自然落下試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Free Fall)

 

CNS 5075

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–等加速度試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Constant Acceleration)

 

CNS 5076

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–振動試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Vibration Test)

 

CNS 5077

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–端子強度試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Terminal Strength)

 

CNS 5078

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–盬水噴霧試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Salt Mist Spray)

 

CNS 5070

 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法–溫度循環試驗

 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature)

 

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